нига-Мартенса, к-рый служит для определения поглощения монохроматического света и для определения распределения энергии в спектру. Кроме этого, он употребляется в качестве спектрополярископа. Спектрофотометр Кёнига-Мартенса отличается от обычного спектроскопа (см. Спектральные аппараты) тем, что его щель коллиматора (рис. 3) разделена на две части. Между призмой Р и объективом зрительной трубы О помещается призма Волластона W и бипризма Z, и, наконец, в фокальной плоскости замененного призмой Николя N окуляра находится переменная щель S2. Два параллельных пучка лучей, соответствующие двум щелям коллиматора, разложенные в спектр призмой Р, пройдя через призму Волластона, распадаются на четыре. Далее эти пучки разлагаются бипризмой на 8 пучков, из которых только два, соответствующие разным щелям коллиматора и взаимно — перпендикулярно поляризованные, проходят через щель S2. Наблюдатель через щель $2 видит цветной диск, разделенный пополам; граница соответствует тупому углу бипризмы. Если при равенстве полей^призма Николя расположена так, > что направление плоскости поляризации света, пропускаемого ею, соста/ Х\ Jro Рис. 3.
вляет угол а с вертикальным направлением, то отношение освещенностей щелей а и Ъ будет tg2 а равно, где а0 есть угол а для случая, когда 1д = 15.
Турмалиновые щипцы состоят из 2 турмалиновых пластин, вырезанных параллельно оптич. оси. Луч, вошедший в первую пластинку, разбивается на два взаимно-перпендикулярно поляризованные луча, из которых один, пройдя расстояние 1—2 мм, практически полностью поглощается. Вторая пластинка служит в качестве анализатора. Турмалиновые щипцы применяются при изучении кристаллов.
Лит.: Справочная книга оптико-механика, под ред.
Л Г. Титова, ч. 1—2, Л. — М, 1936—37 М./Свасов. поляризационный Микроскоп, микро — скоп, приспособленный к изучению кристаллич. веществ. Он применяется преимущественно при изучении горных пород и минералов, а также при изучении технологии, объектов: шлаков, огнеупоров, цемента и пр. Существенной частью П. м. являются две поляризующие призмы (николи), из них одна — поляризатор — помещается под столиком, а другая — анализатор — в тубусе. Анализатор может быть легко выключен и включен в систему микроскопа. Николи устанавливаются преимущественно в перекрещенное положение. Над поляризатором помещается дополнительная линза — конденсор или линза Лазо. Она служит для получения сходящегося пучка света, при помощи которого в П. м. могут быть получены интерференционные фигуры, характеризующие ряд оптич. свойств кристаллов. Столик П. м. делается круглым и вращающимся. При помощи нониуса повороты столика могут быть измерены с точностью до О, Г. Объективы, применяемые наП. м., обычно дают увеличение от 30 до 500 раз.
Для специальных целей применяются и иммерсионные системы. Смена объективов производится либо при помощи револьвера, либо ка-, ждый объектив вставля, ется индивидуально и закрепляется при помощи щипцов. Для совмещения оптич. оси микроскопа с осью вращения предметного столика имеются центрировочные винты, позволяющие придавать небольшой наклон объективу и тем осуществлять его центрировку. В тубусе выше объектива врезаны приспособления для включения и выключения анализатора и подвижная обойма с линзой Бертрана — линзой, дающей в комбинации с окуляром лупу, позволяющую рассматривать фигуру интерференции при установке микроскопа на схо — Поляризационный мидящийся свет. Окуляры, £Pp°c^i Поадр1за? ор' применяемые в П. м., снабжаются или крестом нитей, микрометренной шкалой или сеткой, допускающими измерение размеров изучаемых объектов и их количественных соотношений. При П. м. всегда прилагают две пластинки-компенсаторы, служащие^ для проведения ряда измерений и определений.
Компенсаторы делаются двух типов: один — слюдяный с разностью хода, равной 1/4Л (пластинка = четверть волны), другой — гипсовый с разностью хода в 560—600 мм (чувствительный оттенок). Кроме указанного оборудования, при работе сП. м. применяется ряд дополнительных приборов: компенсатор Берека или Бабине, федоровский столик и др. П. м. изготовляются преимущественно германскими (Винкель-Цейс, Лейтц, Фюс) и австрийскими (Рейхерт) фирмами. Существуют также английские (Свифт), французские (Наше) и американские (Буш и Ломб) системы. Изготовление советских П. м. налаживается, и уже имеются П. м., изготовленные целиком из советских материалов.
Впервые П. м. был применен английским уче-! ным Сорби в 1850, чем было положено начало современного развития петрографии.
Лит.: Ринне Ф. и Верен М., Оптические исследования при помощи поляризационного микроскопа, пер. с нем., М., 1937; Лучицкий В. И., Петрография, т. I, 4 изд., М. [и др.], 1934; Лодочников В. Н., Ос-; новы микроскопических методов исследования кристаллического вещества, 2 изд., [Л.], 1932.
ПОЛЯРИЗАЦИЯ ГАЛЬВАНИЧЕСКАЯ, см. Галь ваническая поляризация.
ПОЛЯРИЗАЦИЯ ДИЭЛЕКТРИКОВ, явление, обнаруживающееся в том, что на поверхностях диэлектрика, помещенного в электрич. поле, появляются заряды (положительный — на одной поверхности и отрицательный — на противоположной), и состоящее в определенной ориентации или в раздвижении зарядов отдельных молекул (или атомов). П. д. измеряется электрич. мо-. ментом единицы объема диэлектрика, т. е. суммой электрич. моментов всех молекул, находящихся в единице объема диэлектрика. Кроме этой величины, для характеристики П. д. вводят еще 4л молекулярную поляризацию, равную ~Na,
