в кристаллах, разделяют на две группы: явления в параллельном световом пучке и явления в сходящемся световом пучке. На рисунке 1 изображен ортоскоп, служащий для наблюдения явлений И. п. л. в параллельных лучах: Ъ — николь, служащий поляризатором, к — кристаллическая пластинка, d — николь, служащий анализатором.
Плоскопараллельная кристаллическая пластинка дает равномерную окраску всего поля
Рис. 3. Пластинка исландского шпата, перпендикулярная оптич. оси, помещена между скрещенными НИКОЛЯМИ.
Рис. 4. Пластинкй исландского йшата, параллельная оптической оси, помещена между окрещёнными НИКОЛЯМИ.
зрения. При повороте анализатора или поляризатора на 90° окраска поля изменяется на дополнительную. — Явления в сходящихся лучах гораздо сложнее явлений в параллельных лучах. Усложнение картины объясняется тем, что лучи, падающие под разными углами на двупреломляющее тело (кристалл), Проходят в нем пути различной длины. С увеличением пути, проходимого светом, в кристалле растет разность фаз между лучами, получающимися в результате двойного лучепреломления. На рис. 2 (а и б) изображена поверхность постоянной разности фаз для одноосного и двуосного кристалла. Эти поверхности носят название изохроматических.
На рис. 3 и 4 изображена интерференционная картина, наблюдаемая в одноосном кристалле, вырезанном перпендикулярно оси (рис. 3) и параллельно оси (рис. 4). Темный крест, пересекающий интерференционную картину, соответствует направлениям, по которым в кристалле идет лишь один луч. При повороте анализатора на 90° крест становится светлым. На рисунке 5 изо
Рис. 5. Пластинка арагонита, перпенбражена интерференционная дикулярная средкартина, наблюдаемая в дву
ней линии кмежду осном кристалле, вырезанном оптич. осями, помемежду скреперпендикулярно биссектрисе щена между оптическими осями. — щен. НИКОЛЯМИ.
В минералогии пользуются для определения различных кристаллов наблюдением интерференционных картин в них. Для исследования микроскопических кристаллов служит поляризационный микроскоп (см. Микроскоп).
Большое практическое значение имеет И. п. л. в телах с искусственно вызванным двойным лучепреломлением. Исследуя интерференцию поляризованных лучей в стеклянных изделиях, мы по наблюдаемой интерференционной картине можем судить об упругих напряжениях в стекле (браковка деталей для ламп накаливания и т. д.). Для исследования напряжений в непрозрачных телах изготовляют из целлулоида модели исследуемых деталей (шестерни, балки, рессоры, резцы и т. д.), нагружают эти модели соответствующим образом и по наблю 26
даемой интерференционной картине исследуют распределение натяжений в них.
В звуковом кино и телевидении применяют ячейку Керра, действие к-рой основано также на И. п. л.
Лит.: Хвольсон О. Д., Курс физики, т. II, 3 изд., Берлин, 1923; Френель О. Ж., О свете, М. — Л., 1928; Зайцев А. К., Оптический метод изучения напряжений, М., 1923;Bruhat G., Cours d’optik..., Р., 1930; ег о ж е, Traits de polarim£trie, Р., 1929; Born М., Optik, В., 1933.
£ ф ИНТЕРФЕРОМЕТРЫ, приборы, в к-рых явле ние интерференции (см.) используется для измерительных целей. Некоторые" И. служат для точного измерения длины, другие для измерений показателей преломления, третьи для исследования спектров (интерференц-спектроСкопы). Большие применения в физике получил И. Майкельсона, схема к-рого изображена на чертеже (рис. 1).
s Свет, идущий от точки S, падает на полусеребряную поверхность стеклянной пластинки .
РТ и разделяется ею t на два когерентных |F пучка, один из к-рых проходит через нее и отражается от зеркала F, второй отражается от D. Затем первый, 1. Схема интерфеотразившись от Рх, и Рис. рометра Майкельсона. другой, пройдя через нее, проходят в направлении ER и дают интерференционные полосы. Прибор Майкельсона применяется для спектральных исследований, для измерения длины волн и для точного измерения малых изменений показателей преломлен ния. Важным преимуществом его является то, что интерферирующие пучки лучей проходят на значительном расстоянии друг от друга. Майкельсон применил свой И. для знаменитого опыта, который должен был обнаружить движений земли в пространстве (см. Майкельсона опыт). На принципе И. Майкельсона основацр устройство некоторых интерференц-компараторов — приборов для точного измерения длины.
В качестве интерференц-спектроскопов применяются И. Фабри и Перро, пластинка Люммера-Герке и эшелон Майкельсона. В первом из них интерферируют лучи, испытавшие многократные отражения от двух строго паралг лельных полупосеребренных стеклянных пластинок, разделенных воздушным . слоем; толщина последнего меняется при параллельном перемещении одной из пластинок; при этом меняется разность хода интерферирующих лучей. В пластинке Люммера-Герке (рис. 2) интерферируют лучи, испытавшие многократные отражения внутри стеклянной пластинки при
Рис. 2. Пластинка Люммера-Герке.
угле, близком к углу полного внутреннего отражения. Свет должен падать на прибор достаточно широким пучком, и интерференционные полосы наблюдаются при помощи трубы, установленной на бесконечность (или глаза аккомодированного на бесконечность), когда в каждой точке поля зрения собираются лучи опре-
